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LabScan XE的優(yōu)點(diǎn)

更新時(shí)間：2015-01-22      點(diǎn)擊次數(shù)：1253
 
LabScan XE除可測(cè)量樣品的反射色度外又可測(cè)量樣品吸收率，亮度，各種色值，K/S值，同色導(dǎo)譜，遮蓋率，白度，黃度等...
 
優(yōu)點(diǎn)
測(cè)出有與目測(cè)一致的0°/45°光學(xué)幾何設(shè)計(jì)
排除像積分球光學(xué)幾何的人機(jī)誤差，排除SPIN/SPEX的困擾
超大44mm測(cè)試口徑，共5種不同尺寸，小至3mm
采用自動(dòng)控制可變焦光學(xué)組件，減少/排除因迷光而引起的色差。
改善訊噪比，大測(cè)量口徑與小測(cè)量口徑減少誤差
環(huán)形光偵測(cè)設(shè)計(jì)，適用于俱偏光（極化）材料
0°/45°光學(xué)幾何設(shè)計(jì)，考慮到樣品表面特征的影響。
接CIE D65模擬光源，提高熒光測(cè)試準(zhǔn)確性。
氙燈俱高UV能量，可追索德國”Hohensteiner”標(biāo)準(zhǔn)
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